Servicios analíticos

Stanford Advanced Materials (SAM) ofrece servicios analíticos completos, como inspección dimensional, pruebas de conductancia eléctrica y determinación del tamaño de grano. Nuestro avanzado laboratorio está equipado con instrumentos de vanguardia para pruebas como GDMS, ICP-MS e ICP-OES.

También realizamos pruebas de propiedades mecánicas mediante SEM, TEM y análisis de difracción de rayos X (DRX), que proporcionan información precisa sobre el comportamiento de los materiales. Con un compromiso de calidad y precisión, SAM es su socio de confianza para servicios fiables de ensayo y análisis.

LISTA COMPLETA DE SERVICIOS

Inspección dimensional

La inspección dimensional garantiza la medición y verificación precisas de las dimensiones de los componentes para cumplir las especificaciones exactas.

Pruebas de conductancia eléctrica

Los ensayos de conductancia eléctrica miden la capacidad de los materiales para conducir la corriente eléctrica, lo que garantiza un rendimiento óptimo en aplicaciones eléctricas.

GDMS

La espectrometría de masas por descarga luminosa (GDMS) proporciona un análisis elemental preciso de materiales sólidos, detectando elementos traza y a granel para el control de calidad y la verificación de materiales.

Determinación del tamaño del grano

La determinación del tamaño de grano analiza la microestructura de los materiales para evaluar el tamaño de grano, que influye en la resistencia y el rendimiento del material.

ICP-MS

La espectrometría de masas por plasma de acoplamiento inductivo (ICP-MS) es una técnica muy sensible utilizada para detectar y cuantificar oligoelementos en diversos materiales.

ICP-OES

La ICP-OES (Espectroscopia de Emisión Óptica de Plasma Acoplado Inductivamente) es una técnica utilizada para la detección y el análisis precisos de múltiples elementos en una muestra a través de la emisión de luz.

Propiedades mecánicas

Los ensayos de propiedades mecánicas evalúan la resistencia, elasticidad, dureza y durabilidad de un material para garantizar que cumple los requisitos de rendimiento.

SEM

La microscopía electrónica de barrido (SEM) permite obtener imágenes detalladas de las superficies de los materiales con grandes aumentos para realizar análisis estructurales precisos.

TEM

La TEM (microscopía electrónica de transmisión) ofrece imágenes de alta resolución de las estructuras de los materiales a nivel atómico para un análisis en profundidad.

Análisis por difracción de rayos X (DRX)

El análisis por difracción de rayos X (DRX) identifica la estructura cristalina de los materiales, lo que permite conocer la composición de las fases y las propiedades de los materiales.

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