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CY9497 Oblea de silicio ultraplana tipo P, Dia. 8 pulgadas x 725 μm de grosor

Catálogo No. CY9497
Material Si
Forma Disco
Formulario Sustrato

Oblea de silicio ultraplana tipo P, Dia. 8 pulgadas x 725 μm de espesor es un sustrato de silicio diseñado para aplicaciones de semiconductores con concentración controlada de dopantes. Stanford Advanced Materials (SAM) utiliza técnicas minuciosas de análisis de superficies, como la microscopía electrónica de barrido, para controlar la planitud y los niveles de defectos. SAM aplica estrictos controles de proceso durante el tratamiento superficial y el adelgazamiento, garantizando la consistencia dimensional y la calidad superficial esenciales para los procesos de fabricación avanzados.

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