CY9475 Sustrato de níquel monocristalino Sustrato de Ni (111), 5x5x1 mm, SSP

Sustrato monocristalino de níquel Sustrato Ni (111), 5x5x1 mm, SSP Descripción

Este sustrato está fabricado a partir de níquel elemental con una orientación cristalográfica (111) y mide 5x5x1 mm. Está diseñado para presentar una microestructura controlada y una baja densidad de defectos, lo que facilita su uso en el procesamiento de semiconductores y el análisis de materiales. SAM emplea la difracción cuantitativa de rayos X y las inspecciones SEM para confirmar la orientación y la uniformidad de la superficie. Sus atributos químicamente inertes y sus dimensiones estandarizadas ayudan a conseguir resultados reproducibles durante la integración de dispositivos y las aplicaciones de investigación.

Sustrato monocristalino de níquel Sustrato de Ni (111), 5x5x1 mm, SSP Aplicaciones

1.Electrónica
- Se utiliza como sustrato en dispositivos semiconductores para lograr una movilidad de portadores constante aprovechando su orientación (111) controlada.
- Se aplica como base para la deposición de películas finas en circuitos para reducir la incorporación de defectos aprovechando su acabado superficial liso.

2.Investigación
- Sirve como espécimen para estudios cristalográficos en ciencia de materiales para obtener datos estructurales precisos aprovechando sus propiedades de orientación uniforme.

3.Industria
- Se utiliza como objetivo en la fabricación de sensores de película fina para mejorar la adherencia de la película aprovechando la microestructura homogénea del sustrato.

Sustrato de níquel monocristalino Sustrato de Ni (111), 5x5x1 mm, embalaje SSP

El sustrato se asegura individualmente en bolsas antiestáticas y se coloca en cajas forradas de espuma para evitar daños mecánicos y contaminación. Se almacena en condiciones de temperatura y humedad controladas para mantener su integridad estructural. Se aplican medidas de protección, como el uso de bolsas selladas con gas inerte y envasado en sala blanca. Bajo pedido, se ofrecen opciones de envasado personalizadas, como inserciones compartimentadas y etiquetado específico.

Preguntas más frecuentes

P1: ¿Qué métodos se utilizan para verificar la orientación (111) del sustrato?
R1: La difracción de rayos X (XRD) y la microscopía electrónica de barrido (SEM) se emplean para evaluar la orientación cristalográfica (111) y confirmar la cristalinidad general del sustrato durante las inspecciones de control de calidad.

P2: ¿Cómo afectan las dimensiones definidas de 5x5x1 mm a su integración con otros procesos?
A2: Las dimensiones normalizadas garantizan la compatibilidad con los equipos convencionales de procesamiento de semiconductores, lo que facilita la deposición uniforme de películas finas y su integración en los flujos de trabajo de fabricación establecidos.

P3: ¿Qué prácticas de almacenamiento se recomiendan para mantener las propiedades estructurales del sustrato?
A3: El sustrato debe almacenarse en un entorno con temperatura controlada y sin humedad, utilizando un embalaje antiestático. Esto minimiza la contaminación y la tensión mecánica, preservando la integridad cristalográfica a lo largo del tiempo.

Información adicional

Los sustratos monocristalinos de níquel son fundamentales en la ciencia de materiales para aplicaciones que requieren una orientación cristalográfica constante. Estos sustratos ayudan a comprender las interacciones a escala atómica en las superficies y sirven como plataformas fundamentales para la deposición de películas finas y la fabricación de dispositivos. La microestructura controlada contribuye a obtener resultados experimentales reproducibles en la investigación de semiconductores avanzados.

El níquel, como metal no ferroso, ofrece ventajosas propiedades inertes y estabilidad a temperaturas elevadas. Su forma monocristalina minimiza los defectos en los límites de grano, lo que resulta crítico para las aplicaciones que exigen una gran uniformidad estructural. Esto contribuye a mejorar el rendimiento de los dispositivos microelectrónicos y la investigación analítica, donde la uniformidad de la superficie y las propiedades controladas son esenciales.