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CY11157 Oblea de silicio recubierta de nitruro de titanio (TiN)

Catálogo No. CY11157
Material TiN, Silicio
Pureza TiN: ≥99,995%.
Formulario Sustrato

La oblea de silicio recubierta de nitruro de titanio (TiN) se produce mediante técnicas de deposición controlada para conseguir una capa de TiN uniforme y consistente sobre sustratos de silicio. Stanford Advanced Materials (SAM) utiliza técnicas avanzadas de pulverización catódica y metrología de superficie, incluido el análisis SEM, para controlar el espesor y la uniformidad de la película. Este enfoque minimiza la variabilidad del proceso y garantiza que la oblea alcance los parámetros de rendimiento adecuados para las exigentes aplicaciones de semiconductores.

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FAQ

¿Cómo se controla el grosor de la capa de TiN durante el proceso de recubrimiento?

La capa de TiN se deposita mediante técnicas de pulverización catódica con control in situ para regular el espesor de la película. Este proceso mantiene la uniformidad a escala microscópica, garantizando que el revestimiento se adhiera bien y cumpla los requisitos específicos de aplicación en dispositivos semiconductores.

¿Qué medidas se toman para garantizar la calidad de la superficie del sustrato antes del revestimiento?

La oblea de silicio se somete a rigurosos procesos de limpieza superficial y pretratamiento para eliminar los contaminantes. La calidad de la superficie se verifica mediante herramientas avanzadas de metrología, lo que garantiza que la capa de TiN se adhiere de forma óptima y minimiza los defectos que podrían afectar al rendimiento del dispositivo.

¿Es compatible el proceso de revestimiento TiN con los equipos estándar de fabricación de semiconductores?

Sí, el proceso de recubrimiento con TiN está diseñado para integrarse en las líneas convencionales de fabricación de semiconductores. Los parámetros de deposición controlados y las dimensiones estándar del sustrato facilitan la incorporación a los flujos de trabajo de producción existentes con unos ajustes mínimos.

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