AL10265 Oblea de zafiro Al2O3 (11-02) 10x5x0,5 mm

Oblea de zafiro Al2O3 (11-02) 10x5x0,5 mm Descripción

La oblea de zafiro Al2O3 (11-02) 10x5x0,5 mm es un sustrato de alúmina monocristalina con unas dimensiones de 10 mm por 5 mm por 0,5 mm y una orientación cristalográfica definida (11-02). Su baja densidad de defectos y su composición química controlada minimizan los niveles de impurezas. Estos atributos favorecen la deposición uniforme de la película y mejoran la consistencia del rendimiento en la fabricación de semiconductores y el montaje de dispositivos ópticos.

Aplicaciones de las obleas de zafiro Al2O3 (11-02) 10x5x0,5 mm

Aplicaciones electrónicas
- Se utiliza como sustrato aislante en circuitos integrados para reducir las pérdidas dieléctricas aprovechando su orientación cristalina controlada y su estabilidad térmica, lo que contribuye a mejorar el rendimiento de los circuitos.

Sistemas ópticos
- Se aplica como ventana transparente en conjuntos de sensores ópticos para limitar la dispersión de la luz aprovechando su acabado superficial uniforme, lo que contribuye a mejorar la claridad de la imagen durante el funcionamiento.

Oblea de zafiro Al2O3 (11-02) 10x5x0,5 mm Embalaje

La oblea se embala en un soporte de espuma antiarañazos que disipa la electricidad estática y se sella dentro de una bolsa antiestática para evitar la contaminación. Se almacena en un entorno controlado con temperatura estable y baja humedad. Existen opciones adicionales de etiquetado personalizado y modificaciones del contenedor para adaptarse a protocolos de manipulación específicos del laboratorio.

Preguntas más frecuentes

P1: ¿Cómo afecta la orientación (11-02) a la integración del material en la fabricación de dispositivos?
R1: La orientación (11-02) proporciona una alineación atómica uniforme que favorece la deposición consistente de la película en los procesos de semiconductores, reduciendo la variación durante la integración del dispositivo.

P2: ¿Qué métodos analíticos se recomiendan para evaluar la calidad de la superficie de las obleas?
A2: La microscopía electrónica de barrido y la microscopía de fuerza atómica se utilizan habitualmente para evaluar los defectos y la rugosidad de la superficie. Estos métodos ayudan a verificar que la oblea cumple las estrictas tolerancias de fabricación.

P3: ¿Es posible ajustar las dimensiones de la oblea sin alterar su integridad cristalográfica?
R3: Es posible ofrecer dimensiones personalizadas manteniendo las propiedades cristalográficas del sustrato. La coordinación con el servicio de asistencia técnica puede garantizar que cualquier modificación se ajuste a las normas de procesamiento establecidas.

Información adicional

Los sustratos de alúmina (Al2O3) se utilizan ampliamente tanto en el procesamiento electrónico de alta temperatura como en aplicaciones ópticas. La inercia química del material y su estabilidad en diversas condiciones térmicas respaldan su uso en entornos en los que un rendimiento constante es fundamental.

Comprender la relación entre la orientación cristalográfica y la composición química es vital para optimizar el rendimiento de los sustratos. Los análisis detallados y los protocolos estándar de control de calidad contribuyen a los avances en la fabricación de semiconductores y la óptica de precisión, reforzando la fiabilidad general de los dispositivos fabricados.