AL10244 Oblea de zafiro Al2O3 Plano C (0001) 0,5 pulgadas X 0,5 pulgadas x 1,0 mm

Zafiro Al2O3 C-plane (0001) 0.5 inch X 0.5 inch x 1.0 mm Descripción

Sapphire Wafer Al2O3 C-plane (0001) 0.5 inch X 0.5 inch x 1.0 mm está fabricado a partir de óxido de aluminio (Al2O3) con una orientación cristalográfica C-plane (0001). La oblea mide 0,5 pulgadas por 1,0 mm de grosor, lo que garantiza su compatibilidad con los equipos estándar de procesamiento de semiconductores. Su superficie plana y su baja densidad de defectos contribuyen a mejorar la uniformidad del proceso en la fabricación de microelectrónica y en aplicaciones ópticas.

Oblea de zafiro Al2O3 plano C (0001) 0,5 pulgadas X 0,5 pulgadas x 1,0 mm Aplicaciones

1.Fabricación de electrónica y semiconductores
- Se utiliza como sustrato en la fabricación de circuitos integrados para conseguir una interfaz plana aprovechando su orientación controlada en el plano C.
- Se aplica en procesos de deposición de películas finas para reducir las pérdidas por dispersión gracias a su baja densidad de defectos.

2.Dispositivos optoelectrónicos
- Sirve de ventana en la producción de LED para mejorar la extracción de luz utilizando su alta transparencia óptica.
- Se utiliza con frecuencia en aplicaciones de sensores para permitir la conversión estable de señales garantizando la uniformidad de las propiedades del material.

Oblea de zafiro Al2O3 Plano C (0001) 0,5 pulgadas X 0,5 pulgadas x 1,0 mm Embalaje

La oblea se embala en una bandeja acolchada antiestática dentro de una bolsa sellada de barrera contra la humedad para evitar la contaminación y los daños físicos. El embalaje también incluye inserciones de espuma y cajas de cartón rígidas de protección. Las directrices de almacenamiento recomiendan un entorno seco y con temperatura controlada para mantener las propiedades del material. Se pueden solicitar opciones de embalaje personalizadas, como compartimentos etiquetados y soportes resistentes a las vibraciones.

Preguntas más frecuentes

P1: ¿Cómo se verifica la planitud de la superficie de la oblea y la densidad de defectos?
R1: Las características de la superficie se verifican rutinariamente mediante microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido (SEM). Estas evaluaciones ayudan a garantizar que la oblea cumple los requisitos de planitud y baja densidad de defectos necesarios para el procesamiento de semiconductores.

P2: ¿Cuáles son las condiciones de almacenamiento recomendadas para esta oblea de zafiro?
A2: La oblea debe almacenarse en un entorno seco y a temperatura controlada para evitar la absorción de humedad y el estrés físico. Se recomienda un embalaje antiestático y una manipulación sin vibraciones para preservar la integridad estructural de la oblea.

P3: ¿Se pueden personalizar las dimensiones o la orientación de la oblea?
R3: Las opciones de personalización pueden estar disponibles en función de las capacidades de producción. Las solicitudes específicas relativas a las dimensiones de la oblea o las orientaciones cristalográficas alternativas deben discutirse con el equipo técnico de SAM para determinar la viabilidad y el impacto en las propiedades del material.

Información adicional

Los sustratos de zafiro fabricados a partir de Al2O3 son fundamentales en los campos de la microelectrónica y la optoelectrónica debido a su gran estabilidad térmica e inercia química. La orientación del plano C es especialmente valorada en aplicaciones en las que unas condiciones superficiales uniformes son críticas para la deposición de la película y el rendimiento del dispositivo.

Los científicos de materiales estudian con frecuencia las propiedades cristalográficas del zafiro para mejorar el rendimiento del sustrato. Las investigaciones en curso se centran en la reducción de la densidad de defectos y la mejora de la calidad superficial, lo que a su vez beneficia a aplicaciones que van desde la electrónica de alta frecuencia a las tecnologías de sensores avanzados.